部分應(yīng)用案例

2.5D / 3D手機(jī)玻璃

表面瑕疵檢測(cè)

識(shí)別速度:≤ 2.3s/pc

檢測(cè)結(jié)果:漏檢 ≤ 2.5% | 過(guò)殺 ≤ 10%

缺陷類型:臟污、毛發(fā)、塵點(diǎn)、劃傷、崩邊、凹凸點(diǎn)、深劃......

缺陷類型:深劃
  • 原圖

  • 檢測(cè)結(jié)果

金屬化陶瓷

表面瑕疵檢測(cè)

識(shí)別速度:≤ 100ms/pc

檢測(cè)結(jié)果:漏檢 ≤ 0.3% | 過(guò)殺 ≤ 1%

缺陷類型:劃傷、崩邊、臟污、開裂、劃痕、缺失......

缺陷類型:劃痕
  • 原圖

  • 檢測(cè)結(jié)果

金屬零件

表面瑕疵檢測(cè)

識(shí)別速度:≤ 500ms/pc

檢測(cè)結(jié)果:漏檢 ≤ 0.1% | 過(guò)殺 ≤ 5%

缺陷類型:臟污、亮印、劃傷、點(diǎn)傷、模印、刀紋、缺口......

缺陷類型:毛刺、劃傷
  • 原圖

  • 檢測(cè)結(jié)果

鋼板檢測(cè)

表面瑕疵檢測(cè)

識(shí)別速度:≥120pcs/min

檢測(cè)結(jié)果:漏檢 ≤ 0.1% | 過(guò)殺 ≤ 5%

缺陷類型:毛刺、劃傷、碰傷......

缺陷類型:毛刺、劃傷
  • 原圖

  • 檢測(cè)結(jié)果

工業(yè)字符識(shí)別

表面瑕疵檢測(cè)

識(shí)別速度:≤ 120ms/pc

檢測(cè)結(jié)果:準(zhǔn)確率 ≥ 99.99%

識(shí)別類型:大寫字母
  • 原圖

  • 檢測(cè)結(jié)果

成品果凍

表面瑕疵檢測(cè)

識(shí)別速度:≥100pcs/min

檢測(cè)結(jié)果:漏檢 ≤ 0.2% | 過(guò)殺 ≤ 5%

缺陷類型:毛發(fā)、果肉蟲、黑渣、氣泡、鐵屑......

缺陷類型:毛發(fā)
  • 原圖

  • 檢測(cè)結(jié)果

面餅檢測(cè)

表面瑕疵檢測(cè)

識(shí)別速度:≥235pcs/min

檢測(cè)結(jié)果:漏檢 ≤ 1% | 過(guò)殺 ≤ 1%

缺陷類型:焦黃、異物、毛發(fā)、臟黑......

缺陷類型:焦黃
  • 原圖

  • 檢測(cè)結(jié)果

藥板檢測(cè)

表面瑕疵檢測(cè)

識(shí)別速度:≥500pcs/min

檢測(cè)結(jié)果:漏檢 ≤ 0.001% | 過(guò)殺 ≤ 0.001%

缺陷類型:變形、泡罩異物、撕裂線位置錯(cuò)誤、密封不實(shí)......

缺陷類型:變形
  • 原圖

  • 檢測(cè)結(jié)果

藥盒包裝

表面瑕疵檢測(cè)

識(shí)別速度:≥500pcs/min

檢測(cè)結(jié)果:漏檢 ≤ 0.001% | 過(guò)殺 ≤ 0.001%

缺陷類型:破損、臟污、藥盒打開、變形、封口標(biāo)簽卷邊......

缺陷類型:變形
  • 原圖

  • 檢測(cè)結(jié)果

藥板藥盒OCR檢測(cè)

表面瑕疵檢測(cè)

識(shí)別速度:≥500pcs/min

檢測(cè)結(jié)果:準(zhǔn)確率 ≥ 99.99%

識(shí)別類型:字符
  • 原圖

  • 檢測(cè)結(jié)果

電子元器件

表面瑕疵檢測(cè)

識(shí)別速度:≤ 2ms/pc

檢測(cè)結(jié)果:漏檢 ≤ 0.01% | 過(guò)殺 ≤ 1%

缺陷類型:漏磁、氣泡、端頭開裂、變形、黑片、龜裂、月牙、沙眼、壓痕......

缺陷類型:端頭不良
  • 原圖

  • 檢測(cè)結(jié)果

軟包動(dòng)力電池

表面瑕疵檢測(cè)

識(shí)別速度:≤ 5s/pc

檢測(cè)結(jié)果:漏檢 ≤ 0.1%(嚴(yán)重缺陷0漏檢) | 過(guò)殺 ≤ 5%

缺陷類型:極片翻折、破損漏夜、封邊異物、凸點(diǎn)、針孔......

缺陷類型:封邊異物
  • 原圖

  • 檢測(cè)結(jié)果

濕壓磁瓦

表面瑕疵檢測(cè)

識(shí)別速度:≥80pcs/min

檢測(cè)結(jié)果:漏檢 ≤ 0.1% | 過(guò)殺 ≤ 15%

缺陷類型:裂紋、崩缺、氣孔、研磨不良、倒角不良......

缺陷類型:掉塊、漏磨
  • 原圖

  • 檢測(cè)結(jié)果

干壓磁瓦

表面瑕疵檢測(cè)

識(shí)別速度:≥120pcs/min

檢測(cè)結(jié)果:漏檢 ≤ 0.1% | 過(guò)殺 ≤ 10%

缺陷類型:裂紋、崩缺、沙眼......

缺陷類型:裂紋
  • 原圖

  • 檢測(cè)結(jié)果

鐵氧體磁環(huán)

表面瑕疵檢測(cè)

識(shí)別速度:≥120pcs/min

檢測(cè)結(jié)果:漏檢 ≤ 0.1% | 過(guò)殺 ≤ 10%

缺陷類型:裂紋、崩缺、堵孔、毛刺......

缺陷類型:裂紋
  • 原圖

  • 檢測(cè)結(jié)果

燒結(jié)磁鐵

表面瑕疵檢測(cè)

識(shí)別速度:≥100pcs/min

檢測(cè)結(jié)果:漏檢 ≤ 0.1% | 過(guò)殺 ≤ 10%

缺陷類型:裂紋、掉角、麻點(diǎn)、刀紋、孔洞、夾雜、腐蝕.....

缺陷類型:裂紋
  • 原圖

  • 檢測(cè)結(jié)果

軟磁磁芯

表面瑕疵檢測(cè)

識(shí)別速度:≥200pcs/min

檢測(cè)結(jié)果:漏檢 ≤ 0.1% | 過(guò)殺 ≤ 10%

缺陷類型:開裂、掉角、晶斑、粘膜、流漿、磨斜......

缺陷類型:裂紋
  • 原圖

  • 檢測(cè)結(jié)果

粘結(jié)磁環(huán)

表面瑕疵檢測(cè)

識(shí)別速度:≥100pcs/min

檢測(cè)結(jié)果:漏檢 ≤ 0.05% | 過(guò)殺 ≤ 10%

缺陷類型:裂紋、缺損、麻點(diǎn)、漏磁、凹坑、異物......

缺陷類型:麻點(diǎn)、凸點(diǎn)
  • 原圖

  • 檢測(cè)結(jié)果

常見問(wèn)題
各個(gè)缺陷類別需要學(xué)習(xí)多少?gòu)垐D像數(shù)據(jù)?
需要學(xué)習(xí)圖像數(shù)根據(jù)圖像的復(fù)雜程度會(huì)有所不同,但在初期不同的瑕疵類別提供40-100張左右即可。
神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型建立需要多長(zhǎng)時(shí)間?
一般圖像2048*2048像素大小,500張為標(biāo)準(zhǔn)的話,大概需要30分鐘左右。
工業(yè)AI視覺(jué)套件安裝,需要改產(chǎn)線嗎?
可直接架設(shè)到原有生產(chǎn)線,一般不需要額外延伸大改產(chǎn)線。
在實(shí)際的生產(chǎn)線上檢測(cè)的識(shí)別速度能達(dá)到什么程度?
例如藥盒包裝檢測(cè)項(xiàng)目,五面全檢一分鐘可檢測(cè)500個(gè)產(chǎn)品左右。但每個(gè)項(xiàng)目的具體情況不同,還是請(qǐng)以實(shí)際項(xiàng)目情況為準(zhǔn)。
是否可以識(shí)別多種不同的缺陷?識(shí)別數(shù)量有無(wú)上限?
支持同個(gè)項(xiàng)目多種不同類別的缺陷,所檢測(cè)類別數(shù)量無(wú)上限。
軟件是否為標(biāo)準(zhǔn)化產(chǎn)品?
產(chǎn)品是標(biāo)準(zhǔn)化,具備很強(qiáng)的通用性,可根據(jù)用戶提供的圖像樣本直接進(jìn)行樣本標(biāo)注、訓(xùn)練及測(cè)試。同時(shí),針對(duì)不同行業(yè)用戶的特殊需求,技術(shù)人員可以在產(chǎn)品基礎(chǔ)上根據(jù)需求定制方案。
圖像樣本是否有格式限定?
圖像格式不受限制,基本覆蓋所有圖像格式。如JPEG、BMP、PNG等。